Zeitaufgelöste Ellipsometrie

Ellipsometrie ist ein anerkanntes optisches Verfahren zur Bestimmung des komplexen Brechungsindex ñ = n + i·k von Substraten oder Schichtsystemen. Wird ein Ellipsometer mit einem Ultrakurzpulslaser kombiniert, so können mittels der Anrege-Abfrage-Technik (Pump & Probe) Laserprozesse mit einer zeitlichen Auflösung von wenigen 10 Femtosekunden vom Femtosekunden- bis in den Nanosekundenbereich beobachtet werden. Das am LHM aufgebaute System erlaubt Oberflächen mit ultrakurz gepulster Laserstrahlung anzuregen (Wellenlängen 400 oder 800 nm) und diese im Wellenlängenbereich 300 nm - 10 µm ellipsometrisch zu untersuchen.

Projektanfragen / -koordination
Forschungsgruppenleiter
Prof. Dr. rer. nat. habil. Alexander Horn
Tel.: +49 (0) 3727 / 58-1069
Fax: +49 (0) 3727 / 58-21069
eMail: horn4(at)hs-mittweida.de