Interferometrie

Mit der Interferometrie steht ein hochpräzises Messverfahren zur Verfügung, bei dem kleinste Änderungen an einem Objekt aufgrund einer äußeren Beeinflussung ermittelt werden können. Dazu zählen thermische oder mechanische Belastungen am Untersuchungsobjekt. Am LHM werden vor allem Michelson- und Mach-Zehnder-Interferometer für die präzise Ermittlung von sehr kleinen optischen Wegstrecken- oder Brechungsindexänderungen eingesetzt.

A. Horn, D. Wortmann, A. Brand, I. Mingareev:
Development of a time-resolved white-light interference microscope for optical phase measurements during fs-laser material processing,
In: Applied Physics A 101 (2010), S. 231-235

I. Mingareev, D. Wortmann, A. Horn:
Time-resolved white-light interferometry for ultrafast metrology,
In: AIP Conference Proceedings 1278 (2010), S. 891

I. Mingareev, D. Wortmann, A. Brand, A. Horn:
Optical Phase Measurements during fs-Processing of Materials Using Time-Resolved White-Light Interferometry,
In: Proceedings of the Conference onLasers and Electro-Optics and the European Quantum Electronics Conference (2009)

D. Wortmann, I. Mingareev, A. Brand, A. Horn:
Micro-welding of glass by fs-laser irradiation and process observation using fs-pump-probe white light interference microscopy,
In: Proceedings of the Conference onLasers and Electro-Optics and the European Quantum Electronics Conference (2009)

Projektanfragen / -koordination
Forschungsgruppenleiter
Prof. Dr. rer. nat. habil. Alexander Horn
Tel.: +49 (0) 3727 / 58-1069
Fax: +49 (0) 3727 / 58-21069
eMail: horn4(at)hs-mittweida.de

Prof. Dr. rer. nat. Bernhard Steiger
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Fax: +49 (0) 3727 / 58-21045
eMail: steiger(at)hs-mittweida.de